Компания Omron представила двухрежимную систему VT-X рентгеновского контроля паяных соединений после оплавления, рассчитанную на использование в составе технологической линии.
Это первая, по заявлению компании, двухрежимная рентгеновская установка, которая объединяет высокоточную вычисленную томографию CT (computed tomography) с высокоскоростной томографической реконструкцией (tomosynthesis), что позволяет значительно увеличивает скорость анализа и использовать установку в составе технологической линии. Время анализа четырех корпусов BGA составляет 60 с и зависит от топологии печатной платы.
С помощью системы VT-X можно контролировать корпуса с матрицы из шариковых выводов, галтели паяных соединений корпусов QFP, компоненты с выводами типа J и «крыло чайки» и коннекторы на платах с размером до 250х325 мм (10х13 дюймов). VT-X может использоваться с программным обеспечением Qup-Navi.
Подробности здесь