Встречи с авторами цикла статей «Основы технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT)»


На стенде Издательского дома «Электроника» на выставке «ЭкспоЭлектроника» (13-16 апреля 2009, Москва, Крокус Экспо) состоятся встречи читателей с авторами цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже почти два года постоянно публикуемого в журнале «Производство электроники».

Во встречах примут участие авторы цикла — Ами Городецкий и Леонид Курилан из компании StarTest (www.start-test.com/University/StartestInRussia.aspx)

Встречи будут организованы в свободном формате вопросов-ответов по любым аспектам применения технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), без специального расписания, т.е. все время работы выставки.

Заинтересованные смогут на месте и бесплатно:

  • получить консультации по тестопригодности их схем (схемы следует принести с собой на бумаге или в любой электронной форме);
  • обсудить возможности тестирования этих схем методами граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT);
  • ознакомиться с работающими демонстрационными примерами JTAG-тестирования и с операционной оболочкой «JTAG-менеджер» с русскоязычным интерфейсом, предназначенной для прогона JTAG-тестов на производственных линиях;
  • получить в подарок «флэшку» с уже опубликованными в журнале статьями и другими относящимися к теме материалами.

Авторы также проведут на стенде В34 компании «ПСБ Технолоджи» ряд коротких ежедневных семинаров (www.pcbtech.ru/pages/view_page/129) по тематике цикла. Участие в семинарах бесплатное и не требует предварительной записи.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *