Встречи с авторами цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования»


На стенде Издательского дома «Электроника» на международной промышленной выставке «Радиоэлектроника и приборостроение» РАДЭЛ (9-12 декабря 2008, Санкт-Петербург) состоятся встречи читателей с авторами цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», опубликованными в журнале «Производство электроники».

Во встречах примут участие авторы цикла «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» — Ами Городецкий и Леонид Курилан из компании StarTest.

На встречах можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники, а также получить в подарок «флэшку» с уже опубликованными статьями.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *