Компания RVSI Inspection LLC анонсировала установку, предназначенную для обнаружения макродефектов в полупроводниковых пластинах и способную контролировать до [[115 изделий в час]]
Компания RVSI Inspection LLC анонсировала установку WS-3800 Xpress из семейства WS-Series Wafer, предназначенную для обнаружения макродефектов в полупроводниковых пластинах и способную контролировать до 115 изделий в час. По заявлению компании, это самая высокая скорость контроля в отрасли, достигнутая благодаря применению перспективной технологии захвата изображения, его параллельной обработки и новой системы манипулирования пластинами.
Установка WS-3800 Xpress может выявлять макродефекты «чистых» (unbumped) полупроводниковых пластин, тестовых шаблонов, пластин с шариковыми выводами до и после их оплавления, а также пластин с золотыми столбиковыми выводами. Возможен также контроль отдельных кристаллов (после разрезки пластины) при наличии специального держателя (film frame-handling), поставляемого по отдельному заказу. Кроме того, установка может комплектоваться 3-D модулем, а также блоком акустического контроля flip chip пластин на любой стадии их производства.