Израильская компания Orbotech, производитель система автоматического оптического контроля (AOI), представила три новых установки.
Система Ultra Discovery F1 предназначена для контроля сборок с корпусами FC-BGA и COF и обладает разрешением в 7 мкм как по линии, так и пространстве.
Система верификации Ultra VeriFine-A включает микроскоп высокого увеличения, с помощью которого возможно обнаруживать дефекты подложек FC-BGA с линейным разрешением до 7 мкм.
Оптическая система Ultra PerFix позволяет в автоматическом режиме устранять короткие замыкания тонких проводников печатных плат с шириной линий до 10 мкм. Ранее такие подложки приходилось выбрасывать.