В предлагаемой вниманию читателей журнала пятой статье серии «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» рассматриваются основы тестопригодного проектирования схем, предназначенных для тестирования и внутрисхемного программирования средствами граничного сканирования. Аббревиатуры, названия сигналов, регистров и состояний ТАР, введенные в предыдущих статьях серии, использованы здесь в основном без дополнительных ссылок.
