Оценка качества электронных устройств становится все более трудоемкой задачей в связи с усложнением многослойной структуры интегральных схем, увеличением их эффективности и одновременным уменьшением размеров. В связи с этим как никогда повышается важность надежных методов контроля качества и анализа неисправностей электронных изделий.
Одним из широко распространенных методов неразрушающего контроля является сканирующая акустическая микроскопия. Данная технология позволяет при помощи акустических волн получать изображения микроскопических объектов и быстро проводить анализ на наличие возможных скрытых дефектов, не разрушая структуру образца.
