Способы разделения полупроводниковых изделий по надежности


PDF версия

В статье предлагаются способы отбраковки потенциально ненадежных полупроводниковых изделий (ППИ) с использованием электрических параметров. Введены критерии отбраковки.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *