Компания FEI представила самый мощный сканирующий [[электронный микроскоп]] с чрезвычайно высоким разрешением.
Компания FEI представила свой последний и самый мощный сканирующий электронный микроскоп Nova NanoSEM 30 с чрезвычайно высоким разрешением, для анализа различных материалов в условиях производства и лабораториях.
Микроскоп позволяет исследовать наночастицы, подложки из изоляционных материалов (стекла или полимеров), пористые материалы, металлы и композиционные материалы, используя пушку Schottky и технологию замедления луча (beam-deceleration).