Разработана «грунтовка» для транзисторов


Несколько атомов оксида алюминия могут решить ключевую проблему, сдерживающую развитие 2D-полупроводниковых технологий следующего поколения.

Тайваньские исследователи разработали новое атомарно тонкое «грунтовочное покрытие» для дисульфида молибдена (MoS₂), которое позволяет наносить сверху очень тонкий изолятор затвора, не оставляя в изоляции отверстий и не нарушая движение электронов под ним.

Современный транзистор — это, по сути, управляемый электричеством переключатель. Как правило, он состоит из полупроводникового канала (в данном случае атомарно тонкого слоя MoS₂) с металлическим «затвором» над ним. Между затвором и полупроводником находится электрический изолятор, называемый затвором-диэлектриком.

При подаче напряжения на затвор создается электрическое поле, проходящее через изолятор. Это поле определяет, смогут ли электроны пройти через MoS₂ от истока к стоку. Поскольку затвор управляет каналом электростатически, чем ближе затвор к каналу, тем сильнее его влияние.

«Сделать изолятор тоньше — это только часть задачи, — объясняют исследователи— Нам также нужно было защитить атомарно-тонкий полупроводник под ним. Наш подход заключался в том, чтобы создать интерфейс, который выполняет обе задачи: способствует равномерному формированию изолирующего слоя и обеспечивает буфер, поддерживающий эффективный поток электронов».

MoS₂ усложняет задачу, поскольку на его поверхности отсутствуют оборванные химические связи, которые есть на многих обычных полупроводниковых поверхностях. В результате традиционные изоляционные материалы с трудом образуют на его поверхности гладкие непрерывные слои. Дефекты на границе раздела могут приводить к утечке тока, а также к рассеянию электронов, движущихся через MoS₂, что снижает подвижность носителей заряда.

Чтобы решить эту проблему, исследователи вставили между полупроводником и основным изолирующим слоем чрезвычайно тонкий буферный слой. Сначала они нанесли на MoS₂ слой алюминия толщиной около 0,3 нанометра, а затем тщательно его окислили. В результате образовался сплошной слой оксида алюминия толщиной примерно 0,42 нанометра. Несмотря на то, что слой состоит всего из нескольких атомов, он выполняет две важные функции.

Во-первых, он обеспечивает подходящую поверхность, на которой может равномерно формироваться основной диэлектрик, устраняя крошечные зазоры, которые в противном случае могли бы стать путями утечки. Во-вторых, он помогает защитить канал MoS₂ от электрических помех, связанных с диэлектриком над ним, позволяя электронам свободнее перемещаться по полупроводнику.

Используя эту технологию, исследователи создали MoS₂ транзисторы с диэлектриком затвора, обеспечивающим электрический контроль, эквивалентный примерно одному нанометру диоксида кремния, при сохранении низкого уровня утечек и высокой подвижности носителей заряда.

По их словам, это достижение позволяет решить сложную задачу, связанную с компромиссом между тремя факторами в двумерной электронике: одновременным созданием чрезвычайно тонкого диэлектрика затвора, сильным электростатическим контролем и высокой подвижностью электронов.

В более широком смысле результаты показывают, как может измениться разработка транзисторов по мере того, как устройства будут приближаться к атомарным размерам. Вместо того чтобы просто искать новые полупроводниковые материалы, инженерам, возможно, придется все чаще манипулировать атомами на границах между существующими материалами.

 

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *