Основой современной аппаратуры военной и аэрокосмической техники являются перспективные электронные компоненты, в т.ч. сверхбольшие и сверхбыстродействующие микросхемы последних поколений. Одним из критериев применения таких микросхем является их уровень надежности, т.к. он в значительной степени определяет и надежность аппаратуры в целом. На ранних этапах проектирования оценка надежности проводится, как правило, расчетными методами, основанными на математических моделях эксплуатационной интенсивности отказов. В статье рассматриваются отечественные и зарубежные методики расчета и прогнозирования безотказности микросхем и приводятся примеры их применения.
