Первый фирменный пробник для проведения измерений при экстремально высоких температурах 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости [[Пробник для проведения измерений]] с помощью осциллографа в испытательных камерах при экстремально высоких температурах
Новая система автоматического оптического контроля (AOI) печатных плат от Sony Manufacturing 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости [[Установка предназначена]] для выявления неправильно установленных компонентов, перевернутых компонентов, потерянных компонентов, компонентов с неправильной полярностью, отсутствие паек, перемычек и излишков припоя
XD7500NT — новая установка рентгеновского контроля от Dage 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Новая установки рентгеновского контроля XiDAT XD7500NT компании Dage может работать в субмикронной области и на открытом [[пространстве]]
Новая 20-канальная система оптимизации профиля печей оплавления 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Американская компания ECD (Electronic Controls Design Inc.) анонсировала новую систему для оптимизации температурного [[профиля в печах оплавления]]
ZPS-1000 — установка для контроля нанесения припойных паст и адгезивов 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Немецкая компания VDS Vosskuhler предлагает измеритель профиля ZPS-1000 на основе CMOS камеры, с выходным сигналом, пропорциональным высоте профиля (координата Z)
µAXI — полностью автоматизированная рентгеновская установка контроля паяных соединений 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Phoenix X-ray Systems продемонстрировала на выставке Productronica 2007 (13-16 ноября, Мюнхен, Германия) свои последние достижения в области [[рентген-контроля]]
Быстрый и недорогой векторный анализатор радиосигналов 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости N9010A компании Agilent Technologies – самый быстрый в отрасли прибор экономкласса
Новый недорогой тестер для сканирования периферии 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Компания Defence Systems & Equipment international (DSEi) предлагает семейство недорогих систем контроля ScanBooster Designer Studio на основе мощного JTAG/Boundary Scan контроллера с USB2.0 интерфейсом и средой разработки CASCON GALAXY®, специально разработанное для быстрой [[проверки прототипов]]
Agilent снизила цену на мультиметры 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Agilent Technologies снизила цену на свои 6 1/2 цифровые мультиметры (DMM). Цена популярного в промышленности мультиметра Agilent 34401A снижена на 9%, высокоэффективного мультиметра 34410A – на 19%. Новая цена DMM 34401A - $1,070, DMM 4410A - $1,295.
Установка для выявления макродефектов полупроводниковых пластин 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Компания RVSI Inspection LLC анонсировала установку, предназначенную для обнаружения макродефектов в полупроводниковых пластинах и способную контролировать до [[115 изделий в час]]
Акустический микроскоп от Sonoscan для анализа полупроводниковых пластин 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Компания Sonoscan предлагает [[акустический микроскоп]] модели AW200™ Series C-SAM®, который позволяет контролировать обработанные полупроводниковые пластины диаметром до 200 мм (8 дюймов)
LXI Consortium одобрил новую версию LXI стандарта (Version 1.2) 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости LXI Consortium одобрил новую версию [[стандарта (Version 1.2)]] и сертифицировал пять новых приборов класса C (Class C) и один класса B (Class B) на своем 10-м Общем собрании (10th General Meeting, 9-11 октября, Мюнхен, Германия)
Новая линия установок оптического контроля от Gopel 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Компания Gopel показала на выставке Productronica 2007 (13-16 ноября, Мюнхен, Германия) новую версию установки автоматического оптического контроля (АОК) [[OptiCon AdvancedLine]]
Первые в отрасли контроллеры сканирования периферии с интерфейсом LXI 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Компания Goepel Electronic на выставке Productronica 2007 представила семейство контролеров для сканирования периферии с интерфейсом LXI, совместимое со стандартом [[IEEE Std.1149.x]]
MatriX Technologies расширила линию своих рентгеновских установок 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости На выставке Productronica 2007 компания MatriX Technologies показала свою новую рентгеновскую систему X2.5 AXI для [[контроля паяных соединений]] на двухсторонних печатных платах
ProfilControl 5-Cable – установка для контроля кабелей в процессе их производства 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Немецкая компания Pixargus предлагает систему автоматического [[оптического контроля]] плоских и круглых кабелей ProfilControl 5-Cable в процессе их производства
YesTech модернизировала установку оптического контроля M1 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Американская компания YesTech в своем пресс-релизе сообщила о модернизации установки [[автоматического оптического контроля]] (AOI) M1
Создана онлайновая «База дефектов паяных соединений» 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Английская Национальная физическая лаборатория NPL создала Базу данных производственных дефектов ([[Industry Defects Database]]). База находится в свободном доступе, поддерживается в онлайновом режиме, данные вводятся ежемесячно всеми участниками проекта.
Ручные ИК-пирометры для бесконтактного измерения температуры 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Компания Fluke предлагает ручные [[ИК-пирометры]] для бесконтактного измерения температуры в диапазоне от –40 до 800°C
Новая версия набора библиотек ввода-вывода для LXI приборов от Agilent Technologies 20.11.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости Agilent Technologies представила новую версию набора библиотек ввода-вывода IO Libraries Suite 15.0