Тестирование модулей

12 и 13 ноября компания «Совтест АТЕ» совместно с Московским государственным институтом электронной техники (МИЭТ) провела на базе института в Зеленограде международный симпозиум по новейшим достижениям в области технологий и оборудования в микроэлектронике.

Итальянская компания Seica назвала «Совтест АТЕ» лучшим дистрибьтором 2008 года.

Компания Vision Engineering предлагает оптический стереомикроскоп SX45 с LED подсветкой (срок службы более 6 тыс. часов), широким диапазоном увеличений и большим рабочим расстоянием (115 мм макс).

Гелий-ионный микроскоп ORION, разработанный компанией Carl Zeiss, по техническим характеристикам превосходит все мировые аналоги – его поверхностное разрешение на различных образцах достигает 2,4 ангстрем (0,24 нм), что близко к диаметру атома. Этот показатель втрое лучше, чем у моделей электронных микроскопов с той же поверхностной чувствительностью.

Компания FEI представила самый мощный сканирующий [[электронный микроскоп]] с чрезвычайно высоким разрешением.

Компания Omega Engineering разработала разъем, к которому можно подключать различные типы термопар и передавать их показания по беспроводной сети на приемник, [[подключенный к ПК]].

Microscan Systems представила [[ручной считыватель штрих-кодов]] Quadrus MINI 3 с 3-мегапиксельной матрицей с высоким разрешением.

Интеллектуальная видеокамера Iris E-Series и средство проектирования Design Assistant компании Matrox со встроенной средой разработки позволяет OEM и системным интеграторам разрабатывать vision и imaging устройства без программирования

Портативный газовый анализатор Triple Plus+ компании Crowcon может быть использован для определения четырех токсичных и огнеопасных газов [[из общего числа 15]]

Новый тестер MicroCal 20 DPC-IS компании E Instruments Group обладает высокой точностью 0.006% и устойчивостью к [[внешним воздействиям]]

Новый цифровой поддерживает [[VGA и SXGA дисплеи]]

Установка для тестирования холодных соединений типа «столбиковые выводы» 4000HS High-Speed Bondtester компании Dage Precision создает симметричную и почти «чистую» нагрузку на выводы с их [[минимальной деформацией]]

Настольная система автоматического оптического контроля YTV B3 компании YESTech с новым осветителем Fusion Lighting, состоящим из 600 цветных LED, позволяет надежно выявлять дефекты печатных плат, паяных соединений и электронных компонентов с размерами [[до 01005]]

Viscom представила [[программное обеспечение EasyPro3D]] для параметрического анализа отказов на основе библиотеки LIB2007

Рабочая станция с видео микроскопом Fineview Video Microscope Workstation компании Fineview позволяет проводить детальное исследование небольших по размерам [[печатных плат и компонентов]]

[[Пробник для проведения измерений]] с помощью осциллографа в испытательных камерах при экстремально высоких температурах

[[Установка предназначена]] для выявления неправильно установленных компонентов, перевернутых компонентов, потерянных компонентов, компонентов с неправильной полярностью, отсутствие паек, перемычек и излишков припоя

Новая установки рентгеновского контроля XiDAT XD7500NT компании Dage может работать в субмикронной области и на открытом [[пространстве]]

Американская компания ECD (Electronic Controls Design Inc.) анонсировала новую систему для оптимизации температурного [[профиля в печах оплавления]]

Немецкая компания VDS Vosskuhler предлагает измеритель профиля ZPS-1000 на основе CMOS камеры, с выходным сигналом, пропорциональным высоте профиля (координата Z)