Skip to content
  • Войти
  • |
  • Регистрация
  • Новости
  • Статьи
  • Видео
  • Рубрикатор
    • Рынок электроники
    • Электронные компоненты
    • Силовая электроника
    • Дисплеи
    • Проектирование
    • Мультимедиа
    • Глобальное позиционирование
    • Встраиваемые системы
    • Беспроводные технологии
    • Светотехника
    • Интернет
    • Инновации
    • Живая электроника России
    • Производство электроники
    • Измерительная аппаратура
    • Автоэлектроника
    • Электропривод
  • Календарь событий
  • Отраслевые таблицы
  • ЖЭР

Тестирование модулей

Требования к разработке отказоустойчивых систем управления и их применение

01.12.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Особенности разработки отказоустойчивых систем управления для различных областей, требования к ним и другие вопросы разработки этих систем будут представлены на семинаре «Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления».

Новые RFID-чипы для считывания товарных меток от NXP

13.04.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания NXP Semiconductors представила свои новейшие УВЧ-решения UCODEG2iL+ и G2iL для маркировки одежды, товаров розничной торговли и электроники

Интеграция периферийного сканирования в установку SPEA4040

06.04.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Совместно с разработчиками из главного офиса SPEA в Италии специалисты JTAG Technologies разработали полноценное решение для интеграции контроллера JT37x7/TSI и ПО для выполнения приложений в установки с летающими пробниками SPEA4040.

Лучший отечественный измерительный прибор 2009 года

16.03.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

СВЧ приборы разработки и производства НПФ «Микран» стали победителями конкурса «Лучший отечественный измерительный прибор 2009 года» Векторный анализатор цепей Р4М-18 занял первое место, измеритель коэффициента шума серии Х5М-18 занял почетное второе место.

Новый стандарт IPC по очистке печатных плат

24.02.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Ассоциация IPC опубликовала стандарт IPC-5704 по очистке печатных плат - важное дополнение к стандарту IPC-5702, выпущенному в июне 2007 года и описывающего факторы при выборе испытаний для оценки влияния остатков загрязнений на долговременную надежность.

Опубликовано расширение стандарта 1149.1 JTAG

13.02.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Институт IEEE опубликовал стандарт IEEE 1149.7 тестирования и отладки кристаллов. Это расширение стандарта 1149.1 JTAG, полностью совместимое с ним.

Agilent объявила о прорыве в области разработки широкополосных осциллографов

03.02.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

В декабре 2009 года компания Agilent Technologies объявила о своей новой разработке, являющейся настоящим прорывом в области разработки широкополосных осциллографов реального времени.

HP представила новые услуги и решения по безопасности

26.01.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания HP представила портфель услуг безопасности и новые решения, обеспечивающие более точную оценку уязвимости, усиление защиты данных и улучшение соответствия требованиям законодательства.

NXP и Intrinsic-ID повышают безопасность микросхем

26.01.201004.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компании NXP и Intrinsic-ID объявили о заключении договора, предусматривающего лицензирование и внедрение встроенных аппаратных средств защиты HIS (hardware intrinsic security) в следующее поколение технологии защищенных микросхем NXP SmartMX™.

Бесплатные программные средства от JTAG Technologies для отладки цифровых плат

16.11.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания JTAG Technologies предлагает новое семейство продуктов JTAG Live™ для «прозвонки» цепей цифровых плат, которое значительно упрощает проверку, традиционно выполняемую при помощи щупов и мультиметров.

Три новых AOI установки от Orbotech

03.06.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Израильская компания Orbotech, производитель система автоматического оптического контроля (AOI), представила три новых установки.

SE500 — система автоматического оптического контроля качества нанесения паяльной пасты

14.04.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания CyberOptics на выставке APEX 2009, проходившей в Лас-Вегасе с 31 марта по 2 апреля, впервые показала свою новую систему автоматического оптического контроля качества нанесения паяльной пасты - SE500 3-D Solder Paste Inspection System.

Цифровая рентгеновская установка для контроля паяных соединений

15.03.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Новая рентгеновская установка XD7600NT100 компании Dage имеет разрешение 0,1 мкм, комплектуется 2 Мп камерой, обеспечивает угол обзора 70° в любом месте объекта размером 406х457 мм (16х18 дюймов).

Компания Koh Young представила третье поколение устройств SPI

28.02.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания Koh Young представила третье поколение устройств контроля нанесения паяльной пасты SPI (solder paste inspection). Система aSPIre-2 разработана в ответ на требования промышленности в повышении скорости и точности контроля и представляет важное средство для оптимизации процесса.

VT-X – система рентгеновского томографического контроля паяных соединений от Omron

27.02.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания Omron представила двухрежимную систему VT-X рентгеновского контроля паяных соединений после оплавления, рассчитанную на использование в составе технологической линии.

Комбинированная AOI и AXI система контроля печатных плат от Viscom

07.02.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания Viscom предлагает комбинированную систему X7056RL автоматического оптического (AOI) и 3-D рентгеновского (AXI) контроля печатных плат больших размеров.

B-52 CRET – тест на ионную чистоту и посторонние включения

06.02.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания Practical Components предлагает набор B-52 CRET (Cleanliness & Residue Evaluation Test) для выявления и оценки ионных загрязнений в производственном процессе.

Рентгеновская установка с переменным фокусным расстоянием

13.01.200904.03.2020 Тестирование модулей Новости

Немецкая компания Yxlon International GmbH предлагает рентгеновскую установку для цифровой радиографии и компьютерной томографии с изменяющимся размером фокусной точки. Данная установка заполняет промежуток между микрофокусными рентгеновскими аппаратами и аппаратами с обычными трубками.

Agilent сократила время тестирования сигналов с часов до секунд

09.12.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания Agilent предлагает аппаратно-программные методы контроля параметров сигналов на соответствие стандартам вместо чисто программных, что позволяет ускорить процедуру тестирования на несколько порядков. Компания разработала шаблоны сигналов (mask test) различных стандартов для осциллографов серии InfiniiVision.

Mirtec обновила свой сайт

04.12.200804.03.2020 Тестирование модулей Новости

Компания Mirtec, известный производитель систем автоматического оптического контроля (AOI), обновила свой сайт, добавив в него новые информационные сервисы и службы.

Навигация по записям

1 2 … 9 Далее
Подписка на новости
отправка...
Видео
  • Всероссийская светотехническая конференция 2020
Комментарии читателей
  • full hd tek parça izle в Обманчивая «земля» в схемотехникеIm grateful for the blog post. Much thanks again.…
  • Стас в Россияне выпустили гигантский 4К-смарт-ТВ за 70 тыс. рублей, который не в каждую квартиру влезетТакой как раз нам в гостиную подойдет, интересно т…
  • Valeri в Власти не будут обнулять НДС для российской радиоэлектроникиИрине... Как легко управлять государством!!! Снизи…
  • Mike в Повышение стабильности операционного усилителяСтатью писала жертва ЕГЭ? Или перевести толком не…
  • MatDim в Срок службы светодиодных светильников: рекомендации по тестированиюСрок службы СД-ламп во многих случаях намного боль…
Это интересно
  • Вышел третий выпуск «Электромагнитной совместимости в электронике»
  • J501-45 – новый фасонно-фрезерный станок для обработки печатных плат от Rohwedder
  • ЦАП. Так ли все просто?
Статьи
  • 19 ЯнвПостроение отечественных кремниевых многофункциональных схем управления для систем АФАР в интегральном исполнении
  • 18 ЯнвУдаление испытательного оборудования
  • 11 ЯнвУчитывать или нет индуктивность массива отверстий в печатной плате?
  • 28 ДекЦифровое радиовещание в широком частотном диапазоне
  • 25 ДекОсновные сведения и приложения для встраиваемых конденсаторов и резисторов
  • 24 ДекКак выбрать установку обратного осмоса
  • 24 ДекЧто такое инженерные системы?
  • 22 ДекВлияние Четвертой промышленной революции на управление процессом создания ценности
  • 21 ДекОбратноходовые преобразователи на основе GAN-технологии от компании Power Integrations
  • 20 ДекЗамена усилителей класса АВ усилителями класса D
  • 15 ДекЗарядные устройства мощностью до 150 кВт для быстрого заряда электромобилей
  • 14 ДекПроектирование печатных плат с DDR:
    настройки моделирования и анализ результатов
  • 13 ДекЭкспресс-контроль элементов интегральных микросхем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока
  • 07 ДекПовышение стабильности операционного усилителя
  • 01 ДекМикроконтроллеры серии I.MX8 компании NXP Semiconductors
Наши сайты

Электронные компоненты

Современная светотехника

© 2007 - 2020 Издательский дом Электроника | Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».