В журнале "Электронные компоненты" №2–6 2025 г. описаны методы и способы настройки изображений для видимого диапазона обнаружения дефектов, и рассмотрены методы измерения, классификации и формирования базы данных (БД) дефектов с помощью автоматизированного программно-аппаратного комплекса (АПАК) для поиска дефектов изделий электронной техники (ИЭТ) с сохранением изображения дефекта в БД для дальнейшего применения, описано обнаружение дефектов полупроводниковых пластин в поляризованном свете, рассмотрена проверка качества порошковых материалов и микроструктур поверхностей, описан поиск дефектов микросварки с помощью электромагнитных устройств.
В этой части статьи проведены исследования в области поиска дефектов путем анализа их ключевых особенностей с использованием современных алгоритмов компьютерного зрения на основе особых точек ORB. В результате предложен новый комбинированный метод поиска дефектов. Эффективность метода подтверждена экспериментальными исследованиями. АПАК разработан специалистами АО «ЦКБ «Дейтон», установлен и эксплуатируется на предприятиях отрасли, приносит существенный экономический эффект, в том числе с применением особых точек ORB.
