Погиб глава Micron. В компании — новый гендиректор


В пятницу, 3 февраля, в авиакатастрофе погиб Стив Эпплтон (Steve Appleton), генеральный директор компании Micron Technology, одного из крупнейших производителей чипов памяти DRAM и NAND.

Эпплтон разбился в возрасте 51 года, пилотируя легкомоторный самолет Lancair близ столицы штата Айдахо, города Бойзи, где расположены основные мощности Micron technology.

Смерть Эпплтона — большая утрата для Micron. Он проработал в компании почти 30 лет, став CEO в 1994 г. в возрасте 34 лет, будучи на тот момент самым молодым CEO в списке Fortune 500. Эпплтон был заядлым лётчиком-любителем и в 2004 г. уже получал травму, управляя самолетом.

Исполняющим обязанности генерального директора Micron Technology пока назначен Марк Дуркан (Mark Durcan), прежний операционный директор, работающий в Micron с 1984 г. и до этого также являвшийся главным инженером компании.

Сейчас для Micron Technology наступают непростые времена: помимо общего падения на рынке флеш-памяти присутствует большая конкуренция со стороны Samsung, Toshiba и Hynix (доля Micron на рынке флеш-памяти сейчас около 13%, что гораздо меньше, чем у лидеров; на рынке DRAM доля Micron сейчас около 12%). Определенные надежды компании связаны с партнерством с корпорацией Intel по выпуску некоторых ключевых продуктов. Аналитики боятся, что безвременный уход Эпплтона может затормозить консолидацию в DRAM-отрасли, которая назрела в последнее время. Речь, в частности, идет о соглашении между Micron и японской компанией Elpide Memory Inc., которая в последнее время испытывает финансовые трудности.

Источник: ZDNet

Читайте также:
Мировой рынок флэш-памяти NAND сократился на 8,6%
Intel и Micron сообщают о создании новой технологии NAND-памяти
Micron и Samsung пытаются создать спецификацию для гибридной памяти
Micron выигрывает в результате закрытия Innovative Silicon
В Вирджинии начнется разработка принципиально новой технологии обработки данных
Micron: положительный баланс по итогам квартала

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *