О состоянии метрологического обеспечения измерений длины в диапазоне 0,8…200 мкм


PDF версия

Создание новой техники, наукоемких технологий и новых материалов, обеспечивающих коренные сдвиги в структуре и техническом уровне производства электроники, в значительной мере определяет необходимость проведения работ по обеспечению единства измерений. Это, в первую очередь, обусловлено развитием микроэлектроники, интегральной оптики и технологии материалов, расширяющих диапазон измерений длины вплоть до атомных размеров

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *