https://lauftex.ru/product/lf-21060-lcw-tsifrovoy-signalnyy-protsessor

Независимые испытания HD Grid-Lok прошли успешно


Компания Ovation Products, разработчик и изготовитель сборочной оснастки сообщает, что немецким институтом Фраунгофера (Fraunhofer Institute) были проведены независимые испытания ее модульной системы HD Grid-Lok для поддержки SMT плат в процессе их монтажа в автоматах сборки.

Приспособление HD Grid-Lok спроектировано таким образом, что полностью устраняет «ручное» вмешательство. Опорные штыри расположены с шагом 12 мм, что позволяет использовать HD Grid-Lok для поддержки плат с различным профилем, легко согласовывать с топологией плат и автоматически выбирать место контакта.

Испытания проводились специалистами института Фраунгофера по заказу ведущего немецкого дистрибьютора электроники, компании Ben Technologies. Результаты испытаний подтвердили высокие технические и эксплуатационные характеристики системы.

Для проведения испытаний специалисты института выбрали печатную плату размером 240x135x1.6 мм с установленными на ней компонентами, включая пассивные 0805, 0402 и 0201, микросхемы в корпусах QFP, флип-чипы и BGA. Основной целью проведения испытаний было определение предельной нагрузки, которую можно прикладывать к плате, установленной на HD Grid-Lok, без риска разрушения компонентов.

Для этого плату помещали на опорные штыри компонентами вниз, а по верхней ровной ее части проводили резиновым ракелем, каждый раз увеличивая давление. Для измерения величины давления в восьми точках платы были установлены сенсоры. Усилие ракеля на плату менялось в пределах от 40 до 160 Н.

После проведения испытаний повреждений компонентов обнаружено не было. Исследователи также отметили, что использование HD Grid-Lok позволяет сократить время на переналадку оборудования и отказаться от использования специализированной оснастки.

Получить дополнительную информацию или копию полного отчета можно, обратившись в компанию Ovation Products.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *