https://lauftex.ru/product/lf-21060-lcw-tsifrovoy-signalnyy-protsessor

Китай первым в мире освоит бездефектное производство чипов

Китайские исследователи провели уникальный анализ причин появления дефектов в производстве чипов на 300-мм кремниевых пластинах. Они буквально заморозили момент на одном из ключевых этапов, что дало возможность оптимизировать последующие операции и достичь 99-процентного сокращения дефектов при производстве микросхем. Такого в индустрии ещё не было и это путь к заметной экономии при выпуске полупроводников.

Давным-давно уровень брака при серийном ...

https://www.icgamma.ru/brands/sipeed/?erid=LjN8KNmg2

Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта Часть 7. Новая технология поиска дефектов на основе многоракурсной структуры

Автоматизированное обнаружение дефектов является важнейшей составляющей контроля качества изделий микроэлектроники. При проведении инспекции особенно сложно идентифицировать дефекты малого размера и дефекты, сливающиеся с фоном поверхности изделий. По этим причинам в статье исследуются и анализируются результаты эффективного многоракурсного подхода машинного обучения (далее МО) для повышения точности обнаружения дефектов путем внедрения и сравнения ранних и поздних методологий слияния.