Основное тематическое направление семинара – показать возможности и преимущества различных методов электрического контроля и их комбинаций в процессе разработки и производства электроники.
Будут рассмотрены принципы работы основных методов электрического контроля – внутрисхемное и функциональное тестирование как с использованием периферийного сканирования JTAG, так и совместно с другими способами электрического контроля.
Опыт работы в области тестирования на российском рынке показал, что многие пользователи тестового оборудования хотели бы совмещать структурное тестирование, призванное локализовывать производственные дефекты, с функциональной проверкой изделий. Одна из задач семинара – показать, какие из функциональных проверок и операций могут быть реализованы на базе автоматических средств тестирования. Также мы расскажем, как производится интеграция средств структурного тестирования (JTAG, Flying Probe, ICT) и средств функциональной проверки.
Будут продемонстрированы новые возможности систем JTAG-теста в области симуляции функциональной проверки печатных узлов (JTAG Functional Test) и его сравнение с «классическим» структурным JTAG-тестом.
Семинар пройдет 15 сентября 2010 года в офисе Предприятия Остек
Адрес: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.
Начало семинара в 10 часов.
Зарегистрироваться на участие можно по телефонам:
(495) 788-44-44 — ЗАО Предприятие Остек, отдел электрического контроля НПРА;
(812) 313-91-59 — представительство JTAG Technologies.