Новые меры диэлектрических параметров призваны заменить государственные стандартные образцы (ГСО) диэлектрической проницаемости. А новый прибор позволяет выполнять точные измерения как на макро-, так и на микроскопическом уровне, особенно востребованные при работе с радиочастотными и высокочастотными устройствами, а также при контроле качества сборки и исследованиях материалов микроэлектроники.