https://lauftex.ru/product/lf-21060-lcw-tsifrovoy-signalnyy-protsessor
https://www.icgamma.ru/brands/sipeed/?erid=LjN8KNmg2

Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта Часть 7. Новая технология поиска дефектов на основе многоракурсной структуры

Автоматизированное обнаружение дефектов является важнейшей составляющей контроля качества изделий микроэлектроники. При проведении инспекции особенно сложно идентифицировать дефекты малого размера и дефекты, сливающиеся с фоном поверхности изделий. По этим причинам в статье исследуются и анализируются результаты эффективного многоракурсного подхода машинного обучения (далее МО) для повышения точности обнаружения дефектов путем внедрения и сравнения ранних и поздних методологий слияния.