MADE IN RUSSIA: тестер микросхем FT-17HF


PDF версия

Разработка современных тестовых систем для контроля качества изделий микроэлектроники являлась для ООО «Совтест АТЕ» одной из важнейших задач на протяжении последних нескольких лет. Для реализации данной цели специалисты компании использовали не только собственный опыт, накопленный в течение 20 лет работы (с момента своего основания в 1991 г. ООО «Совтест АТЕ» специализируется именно на тестовых технологиях), но также опыт зарубежных и российских коллег. В результате на международной выставке «Экспоэлектроника-2012» состоялась презентация нового изделия под брендом «Совтест АТЕ» — тестовой системы FT-17HF для контроля параметров микросхем широкой номенклатуры.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *