Контроль печатных плат на соответствие RoHS/WEEE


Настольные рентгеновские системы XRF компании Matrix Metrologies предназначены для обнаружения в печатных платах и компонентах металлов, запрещенных к применению директивами RoHS/WEEE. С их помощь можно выявлять в образцах наличие свинца, ртути, хрома, кадмия и, брома.

Кроме того, установки Benchtop XRF пригодны для оценки содержания свинца в военной и аэрокосмической аппаратуре, не подпадающей под действие директивы RoHS. Приборы работают с любыми покрытиями, включая AuNiCu, иммерсионное золото, серебро и олово, matte олово и сплав SnPb на выводах и контактных площадках, покрытых свинцом, а также на ENIG пакетах.

Для оценки используют рентгеновские спектрометры совместно с пропорциональными датчиками давления, Si-PIN или Silicon Drift детекторами и предварительной лучевой фильтрацией.

Дополнительная информация здесь

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *