Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»

Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники» прошла 6 июня в Москве. Организатором этого мероприятия стала медиагруппа «Электроника».

Конференция вызвала значительный интерес – в зале собралось около 170 человек.

Это показывает, что проблемы качества производства современной электроники не чужды российским производителям.

Открыл конференцию доклад Алексея Иванова, JTAG. Он рассказал о перспективных и уже действующих стандартах JTAG-теста.

Затем Гиви Чхутиашвили, его коллега, привел практические примеры тестопригодного проектирования. Это актуальная тема, поскольку о проблемах тестирования следует задумываться на стадии проектирования – когда изделие сходит с конвейера, решать их уже поздно.

Большой интерес вызвал и доклад Андрея Насонова, «Остек», в котором речь шла о внутрисхемном тестировании, о надежности, о различных методах проверки.

Думается, несмотря на дороговизну и стоимость оборудования, используемого для таких методов тестирования, докладчику удалось убедить зал в целесообразности применения таких систем. А оборудование действительно непростое – во всяком случае, обучение персонала для работы на нем занимает несколько недель.

Забегая вперед, заметим, что и второй доклад Андрея Насонова, значительная часто которого была посвящена контрафактной продукции, вызвал значительный интерес и породил множество вопросов в зале. В настоящее время «умельцы» достигли больших успехов в подделках и, чтобы распознать такую продукцию, приходится прибегать к самым современным научным методам.

Как правило, на наших конференциях мы стараемся предоставить как можно больше времени для выступления компаниям, имеющим практический опыт внедрения различных технологий. Подобным образом мы поступили и на сей раз. Максим Комков из Promwad рассказал об использовании JTAG-тестирования и привел примеры использования тестов при испытании продукции компании.

Александр Курицкий из Самарского государственного аэрокосмического университета поделился опытом тестирования печатных плат бортового электрооборудования самолета Superjet 100. Его выступление лишний раз подтвердило, что думать об испытаниях следует уже на этапе разработки.

Юрий Козлов из таганрогской компании «БЕТА ИР», которая специализируется в области тестирующего оборудования и авиационной электроники, рассказал о собственной разработке компании – унифицированной автоматизированной системе НАСК для испытания авиационной электронной техники. Система внедрена в серийное производство и работает на российских авиапредприятиях.

Наталья Ивченко из компании «Современные беспроводные технологии» рассказала об использовании JTAG-тестирования в испытаниях телефонной аппаратуры.

Выступления представителей National Instruments Дениса Виноградова и Ивана Леухина были посвящены оборудованию этой компании, специализирующейся на производстве автоматизированных измерений.

Наконец, Илья Соколов, ВИСОМ, рассказал о методах виброиспытаний для различных приложений. Компания разработала электронный блок управления для электродинамических вибростендов и к нему – программно-алгоритмическое обеспечение.

Конференция длилась более 8 часов и, конечно, мы не можем во всех подробностях пересказать ее. Однако желающие могут получить презентации докладов и аудиозаписи конференции. Для этого следует обратиться в оргкомитет конференции: для заказа, пожалуйста, вышлите запрос на адрес conf@ecomp.ru.

Мы ждем ваших предложений на следующий год и готовы ответить на вопросы.

Тел.: +7 (495) 741-7701, доб. 2339.

Контактное лицо – Фаттахова Гуля.

Источник: Медиагруппа «Электроника»

Оставьте отзывОтмена