Компания «Совтест АТЕ» провела международный симпозиум по микроэлектронике


12 и 13 ноября компания «Совтест АТЕ» совместно с Московским государственным институтом электронной техники (МИЭТ) провела на базе института в Зеленограде международный симпозиум по новейшим достижениям в области технологий и оборудования в микроэлектронике.

На симпозиуме присутствовали представители более 20 ведущих предприятий электронной промышленности России и стран СНГ, включая ФГУП «РНИИ КП» (Москва), ОАО «Ангстрем» (Зеленоград), ФНПЦ ФГУП «ПО «Старт» (Заречный, Пензенская обл.), ОАО «РНИИ «Электронстандарт» (С.-Петербург), НПО «Интеграл» (Минск, Белоруссия), ОАО «НИИМЭ и Микрон» (Зеленоград), ОАО «ВЗПП-С» (Воронеж), ФГУП «ПО «УОМЗ» (Екатеринбург) и др.

Стоит отметить присутствие на симпозиуме студентов старших курсов и аспирантов МИЭТ, которым был открыт свободный вход на мероприятие. Благодаря тому, что симпозиум проходил непосредственно на территории института, помимо теоретических докладов, была возможность продемонстрировать его участникам и установленное в институте оборудование.

В ходе мероприятия специалистами ООО «Совтест АТЕ» были раскрыты темы методов монтажа и тестирования изделий микроэлектроники, а также расходных материалов, применяемых в данной сфере. Зав. кафедрой «Микроэлектроника» МИЭТ, д.т.н., проф. Тимошенков С.П. представил доклад на тему: «Развитие МЭМС технологий в МИЭТ. Возможности проектирования и производства».

С презентациями на симпозиуме выступили представители зарубежных партнеров ООО «Совтест АТЕ». Keith Bryant из фирмы Dage (Великобритания) рассказал слушателям о последних разработках в области рентгеновской (X-Ray) инспекции. Ralf Jaeckel из фирмы Multitest (Германия) рассказал о методах тестирования микроэлектромеханических систем (МЭМС).

Особо стоит отметить выступление на симпозиуме представителя института Fraunhofer IZM (Германия), ведущей исследовательской организации, занимающейся разработками и производством в области микроэлектроники и нанотехнологий. Michael Feil рассказал как о самом институте, направлениях его работы, так и подробно описал технологию RFID в производстве ультратонких ИС и полимерных транзисторов. Данное направление исследований является профилирующим для отделения IZM.

В рамках симпозиума между представителями ООО «Совтест АТЕ», института Fraunhofer IZM и проректором по научной и инновационной деятельности МИЭТ, д.т.н., Беспаловым В.А. были проведены переговоры о перспективах дальнейшего сотрудничества.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *