В ЭК1 2026 г. рассмотрены и обобщены тенденции 2025 г. в исследованиях и результатах применения оптического обнаружения дефектов ИЭТ с помощью технологий освещения, в ЭК2 описаны тенденции развития автоматизированных систем оптической инспекции для анализа качества покрытия поверхностей изделий. В этой части статьи рассматриваются последние достижения в поиске дефектов покрытий, охватывающие методы контроля на основе физических свойств и подходы на основе глубокого обучения.
