Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 3. Обнаружение дефектов полупроводниковых пластин в поляризованном свете 28.06.202529.06.2025 Российский рынок Микроэлектроника искусственный интеллект Производство электроники Новости, Статьи В Части 3 описано обнаружение дефектов полупроводниковых пластин в поляризованном свете.
