6 июня в Москве состоится конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества»


Организаторы конференции: журнал «Электронные компоненты» совместно с российскими и зарубежными производителями оборудования.

Конференция впервые проводится в России и является крупнейшим технологическим мероприятием!

Мы приглашаем Вас и Ваших коллег принять участие в мероприятии. На конференции у Вас будет возможность ознакомиться с эффективными инструментами и методами тестирования электронных схем, позволяющих решить многие серьезные проблемы, такие как улучшение качества и надежности, упрощение ремонта и оптимизация производственных процессов.

Подробную информацию об условиях участия в конференции Вы можете получить на сайте и в оргкомитете конференции:

Контактное лицо –  Гуля Фаттахова, Тел.: (495) 741-77-01, доб 2339, E-mail: conf@ecomp.ru

Внимание! Регистрация обязательная.

Будем рады видеть Вас на конференции!

Источник: Медиагруппа «Электроника»

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *