Мы приглашаем Вас и Ваших коллег принять участие в мероприятии. Конференция дает возможность ознакомиться с основными тенденциями в применении инструментов тестирования, эффективными технологиями тестирования электронных схем и оптимизации производственных процессов.
Многие выступления на конференции посвящены интересным нестандартным решениям компаний, производящих электронику.
 |
На фото: I Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники» состоялась в 2013 г.
Участники конференции: разработчики и производители электронной аппаратуры, тест-инженеры, проектировщики, производители и поставщики тестового и испытательного оборудования.
Всего ожидается около 150 специалистов.
Предварительная программа
- Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.
- Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.
· Элементы входного контроля при внутрисхемном тестировании, представитель ЗАО «Остек-Электро» - Механические испытания, в том числе динамические.
- Климатические испытания.
- Испытания на надежность.
- Испытания на электробезопасность
- Испытания на электромагнитную совместимость.
- Функциональные тесты и испытания.
· Наборы «сделай сам» для изготовления оснастки для функционального контроля, особенности проектирования спецоснастки для тестирования серийно выпускаемого изделия, представитель ЗАО «Остек-Электро»
· Тестирование моточных изделий и электрических машин, представитель ЗАО «Остек-Электро»
· Современные автоматы для внутрисхемного тестирования, представитель ЗАО «Остек-Электро» - Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники, представитель ОАО «Субмикрон»
- Электроконтроль
· JTAG-тестирование на уровне многоплатных систем: практический опыт. Ли Виктор, НПП НТТ
· Интеграция периферийного сканирования с другими методами структурного тестирования. Алексей Иванов, JTAG Technologies - Программно-аппаратные средства проведения испытаний
· Мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies
Регистрация обязательная!
Для участия в конференции в качестве гостя заполните бланк заявки и направьте по факсу (495)741-7702 или электронной почтой на адрес conf@elcp.ru.
Подробную информацию об условиях участия в конференции, возможности выступления с докладом, бронирования гостиницы Вы можете получить в оргкомитете конференции:
Тел.: (495) 741-77-01, доб 2339, Контактное лицо – Гуля Фаттахова
Будем рады видеть Вас на конференции!
Читайте также:
Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»
Роль тест-инженера в повышении эффективности тестирования электроники
6 июня в Москве состоится конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества»
Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»
Новый подход в тестировании объемных кристаллов
Разработка и тестирование современных цифровых устройств. Технология периферийного сканирования JTAG
Установки компании XYZTEC для тестирования качества соединений
Анализ и тестирование светодиодной продукции как залог ее качества
Источник: пресс-релиз