26 ноября состоится вебинар «Применение периферийного сканирования в условиях серийного производства»


26 ноября в 15:00 по московскому времени компания JTAG Technologies приглашает вас на бесплатный вебинар «Применение периферийного сканирования в условиях серийного производства».

После серии летних вебинаров, на которых было рассказано, в частности, о том как разрабатываются JTAG-приложения, позволяющие диагностировать дефекты с точностью до вывода даже там, где все микросхемы имеют корпуса BGA, настало время следующей стадии. Когда JTAG-тестирование выходит на «цеховую» стадию, важно решить следующие вопросы:

  1. Как, в какой последовательности и с какими опциями запускать все ранее сгенерированные тесты на платформе JTAG ProVision, какие есть нюансы.
  2. Как оформить аппаратную интеграцию в тестеры ICT или Flying Probe. Какие есть подводные камни? Почему это иногда необходимо, а когда – не нужно?
  3. Отдельно расскажем про программную интеграцию тестов в LabVIEW, TestStand, C++, и так далее. Что, если не хочется расставаться любыми средами для тестирования?
  4. Как быстро программировать флэшки на станциях периферийного сканирования? Что вообще можно программировать?

Все эти и другие вопросы мы обсудим на вебинаре и дадим вам ключ к построению правильной тестовой стратегии. Темы, которые будут затронуты, будут интересны как тем, кто уже использует периферийное сканирование, так и тем, кто только собирается строить такую тестовую стратегию.

РЕГИСТРАЦИЯ

Для тех, кто желает быть в курсе всех мероприятий, связанных с JTAG-тестированием, а также всех новинок данного направления, мы предлагаем подписаться на телеграм-канал JTAG Technologies: JtagtechRU.

Оставьте отзыв

Ваш емейл адрес не будет опубликован. Обязательные поля отмечены *